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FIB扫描电镜人工智能识别及自动化成像系统
软件运行环境
| 环境类别 | 要求/说明 |
| 操作系统 | Windows 10/11（64位） |
| 开发语言 | Python 3.10 - 3.13 |
| GUI 框架 | PyQt5 |
| 深度学习 | PyTorch、Torchvision、Ultralytics、YOLOv5 推理模块（开源，AGPL-3.0） |
| 图像处理 | OpenCV、NumPy、SciPy、scikit-image、scikit-learn、Pillow、imageio、matplotlib |
| 安全与通信 | cryptography（RSA 授权验证）、requests（远程任务对接） |
| 硬件接口 | Zeiss SmartSEM 远程 API（COM 组件）；适配 Zeiss Crossbeam / Sigma 系列扫描电镜 |
| 计算硬件 | Intel Core i5 及以上 CPU；内存 ≥16 GB；NVIDIA GPU（CUDA ≤12.8，可选，纯 CPU 亦可推理） |
| 授权要求 | 运行目录需放置有效 license.json（RSA 签名 + MAC 地址绑定） |
全新的自动化设计，给予您前所未有的SEM拍图体验。无需编写代码，图形化界面集成一键操作，自动实现进样到聚焦拍图，告别繁琐的SEM拍图流程，轻松获得高质量图像。
不仅于此，全新的人工智能特征识别，拍完自动抓取图像特征、测量图像尺寸，无需人为操作，自动给出测量报告，极大提高您的工作效率。
一键全流程，自动高通量
我们为您提供全新的SEM自动化系统设计，从进样到成像，从样品到图片，从测量到报告，告别繁琐的操作流程，无人值守一键解决。
自动关联：光电关联，告别复杂操作，三点自动匹配。
自动成像：一键聚焦，广域检索，全新高通量的自动拍图；聚焦 → 关联 → 拍图，多目标自动拍图，高自动化流程设计。
自动识别：多种目标，任意形状，人工智能帮您快速识别；基于AI的图像分割方法，一键自动分割，颗粒分布一目了然。
一图多目标：一张图片中允许同时存在多个目标进行检测，通过不同颜色标注，一眼区分不同结构。
自动测量：高精度自动检测算法自动量测样品尺寸；AI检测到目标后依据图形特征自动测量，自动识别边界，并提供测量统计数据。
自动报告：测量结果、目标位置自动记录生成报告；测量结果自动保存，无需人为整理，测量数据清晰排列。
人工智能，快速识别
可靠高效的人工智能正在待命，无需编程，轻轻一点人工智能帮您快速识别图像特征。
自定义目标特征：使用深度学习自定义您想要的特征ROI，支持任意形状以及一图多特征。
高效特征识别：快速准确的人工智能识别，实现边拍边识别。
准确目标导航：同步输出检测目标实际坐标，实现特征点快速定位。
自定义工作流
全新的软件形式，允许功能拆分再组合。自定义的工作流程，贴合实际工作场景，适配具体需求。
模块化设计：自动化功能采用独立的模块化设计，适合使用。
定制化模型：自动化模块任意排列组合，为实际使用场景定制流程。
备注：
此软件由集团子公司迈科智视（上海）科技有限公司供货
联系人：Vivian Wang
联系方式：wei.wang@mvisiontech.com
